October 30-November 1, 2002
National museum of Emerging Science
and Innovation Tokyo,Japan
2002年10月30日〜11月1日に日本科学未来館において,日本光学会光設計研究グループとSPIE
Japan
Chapterが主催する光学・フォトニクス設計と製造に関する国際会議ODF2002,Tokyoが開催されました。 この会議で菅野が”Effect of Interference on Scanning Performance of fθ Lens Fixed by a Shrink Fitter”と題して日頃行っている研究内容について発表してきました。 |
会議は300名ほど収容できるとても広い会場で行われ,10月31日の最後の発表でした. 初めて光学を専門とする学会での発表だったので講演内容に対する反応に期待と不安を感じつつ,なおかつ英語での発表だったため緊張もいつも以上でした. |
発表の始めでPCがフリーズするなどのトラブルがありましたが,無事に発表を終えました.いくつか質問もいただき,発表終了後に個別に詳細を聞きに来てくれた方もいて非常に有意義でした. |
初めての国際会議でしたが,やはり英語でのコミュニケーションは非常に重要であることを改めて痛感しました.質問をされても内容はなんとなく分かるのだが,その答えをうまく表現できなくて非常にもどかしく感じました.英語をうまく使いこなせれば,このような国際会議で最先端の研究内容をキャッチすることが出来るので研究の視野が格段に広がると思います. |